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분석 실험실, 연구 및 과학

X선 형광 (XRF) 검출기

XRF (X-ray 형광) 검출기는 분석할 샘플 표면에 고 에너지 X- 레이를 조준하는 AES (Atomic Emission Spectroscopy)의 한 형태입니다. 이러한 X- 선과 물체의 상호 작용으로 인해 2 차 (형광) X- 선이 방출됩니다. 존재하는 각 요소는 서로 다른 에너지를 가진 X- 선을 생성하며, 이러한 요소는 에너지에 대한 강도의 스펙트럼으로 감지되어 표시 될 수 있습니다. Peak 위치는 어떤 요소가 존재하는지, 피크 높이는 각 조성이 얼마나 존재 하는지를 나타냅니다. 이 기술은 광업 및 광물 탐사, 시멘트, 세라믹 및 유리와 같은 산업에서 일반적으로 사용됩니다.

Experis®의 특수가스 및 혼합물에는 아르곤 검출기 혼합가스의 'P5', 'P10', 메탄, 초고순도 가스가 포함됩니다.

특수가스 및 혼합가스의 Experis 제품군

특수가스 및 혼합가스의 Experis 제품에는 아르곤 검지기 혼합가스의 'P5'및 'P10' 메탄 및 분석 장비의 성능을 최적화하도록 특별히 설계된 초고순도 가스가 포함됩니다.

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P5 및 P10 혼합물

아르곤 검출기 가스 혼합물의 'P5'및 'P10'메탄 및 분석 장비의 성능을 최적화하도록 특별히 설계된 초고순도 가스

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BIP® 기술

질소, 아르곤 및 헬륨 가스는 분석에 최적화되어 있으며, 주요 불순물 <10 ppb O₂ 및 <20 ppb H₂O입니다. <100 ppb O₂ 및 <20 ppb H₂O 불순물을 갖는 수소 BIP

제품

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Expert Trish Lees
Trish Lees

사업 개발 전문가